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屹持光电提供各种衰减全反射棱镜ATR Prism元件，用于全内反射测量。通常，当样品难以用透射分析时，使用反射光谱法。顶置ATR系统适用于凝胶、薄膜和细粉分析。使用不同的顶板ATR系统分析难以处理的易挥发或敏感样品。它们还用于提供温度敏感分析和聚合物膜迁移，以及表面取向和反应动力学研究。单反射ATR系统使用高吸收和小样本进行静态或流动分析。
当红外辐射进入具有较高折射率和良好透射率的材料时，发生内部反射。如果入射角超过临界角（等式1），则与晶体紧密接触的样品吸收能量。
全内反射条件：
其中n 1，n 2 - 两种介质的折射率。
如果系统使用多个反射附件，则仪器的光束反复反射，并且每次反射都会吸收一些能量。当光束离开晶体并到达检测器时，它包含来自样品的光谱数据。结果可以记录吸收光谱。
以下因素会影响ATR频谱：
ATR晶体由足够硬的材料制成，具有高折射率，晶体配置为允许内部反射。使样品与ATR晶体保持接触，并记录光谱作为晶体透射曲线和样品吸收曲线的叠加。
图1 衰减全反射棱镜ATR Prism光传播。
屹持光电提供几种几何形状的定制ATR组件：梯形、平行四边形、杆和半球。使用各种材料：ZnSe、Ge、Si和蓝宝石。所有材料和产品均符合严格的控制标准，包括光谱特性和一般性能要求以及规格控制。
