新闻动态   News
联系我们   Contact
你的位置:首页 > 新闻动态 > 行业新闻

法国Phasics推出高性价比近红外波前分析仪SID4-SWIR

2018-06-06 11:16:21      点击:

        近日,PhasicsCorp为满足客户需求,推出基于专利的四波横向剪切干涉技术和高性能InGaAs探测器的高性价比SID4-SWIR近红外波前分析仪,波段范围900-1700nm,采样点数量高达512080*64),灵敏度2nm,动态范围100μm,采样频率120Hz

SID4-SWIR近红外波前分析仪具有非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.91.7µm,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。

关于Phasics法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于其专利的四波横向剪切干涉技术。相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析等提供了全新的解决方案。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS,制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求。

关于上海屹持:上海屹持光电技术有限公司作为Phasics中国区域代理商,同时也是一家专业从事激光领域相关产品的研发、引进、销售、方案设计、组装集成、技术服务的现代高科技企业。团队成员具有专业光电背景和长期从业经验,利用自身的专业优势将最先进的科研设备及服务提供给用户。从单个产品到整体解决方案,从商务服务到技术支持,均获得了广大用户的肯定和信赖。

 

波前分析仪主要应用领域:

1.       激光光束参数测量:相位(2D/3D),M2,束腰位置,直径,泽尼克/勒让德系数

2.       自适应光学:焦斑优化,光束整形

3.       元器件表面质量分析:表面质量(RMSPtVWFE),曲率半径

4.       光学系统质量分析:MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制

5.       热成像分析,等离子体特征分析

6.       生物应用:蛋白质等组织定量相位成像



Phasics波前分析仪产品列表:

型号

SID4

SID4-HR

SID4-DWIR

SID4-SWIR

SID4-SWIR-HR

SID4-NIR

SID4-UV

波长

400-1100nm

400-1100nm

3~5, 8~14µm

0.9~1.7 µm

0.9 ~ 1.7 µm

1.5 ~1.6 µm

250~450 nm

孔径mm

3.6 × 4.8

8.9 × 11.8

13.44 × 10.08

9.6 × 7.68

9.6 × 7.68

3.6 × 4.8

7.4 × 7.4

分辨率μm

29.6

29.6

68

120

60

29.6

29.6

采样点

160 × 120

400 × 300

160 × 120

80 × 64

160*128

160×120

250 × 250

动态范围

> 100 µm

> 500 µm

N/A

~ 100 µm

~ 100 µm

> 100 µm

> 200 µm

精度

10 nm RMS

15 nm RMS

75 nm RMS

15 nm RMS

15 nm RMS

> 15nm RMS

20 nm RMS

灵敏度

< 2 nm RMS

< 2 nm RMS

< 25 nm RMS

<2nm RMS

<2nm RMS

< 11nm RMS

2 nm RMS

采样频率

> 100 fps

> 10 fps

> 50 fps

120 fps

120 fps

60 fps

30 fps

处理频率

10 Hz

3 Hz

20 Hz

> 7 Hz

> 7 Hz

10 Hz

> 2 Hz

尺寸mm

54×46×75.3

54×46×79

85×116×179

100×55×63

100×55×63

44×33×57.5

53 × 63 × 83

重量

250 g

250 g

1.6 kg

455 g

455

250 g

450 g