AA-M显微实时扫描自相关仪
AA-M
显微镜扫描型自相关仪提供了2个同步的测量点，1个位于显微镜的焦平面上，另1个位于激光束的合适位置，例如：在显微镜输入的前端，然后比较2束脉冲的测量值，来确定显微镜光学部件引起的脉冲延展，在很多情况下，显微镜焦点处的超短脉冲因“群速色散”而导致脉冲时间加宽，这一测量对于校正超短脉冲和提高非线性光学成像 (例如：双光子) 效率，降低脉冲激发的次数和能量，获得成功的实验结果是非常重要的；这一测量还能确定出样品曝光的时间，据此来优化激发强度，修正参数，以降低样品的激光损伤。
产品特性：
- 输入脉冲宽度范围20 - 12000 fs *
- 外部和内部光电探测器
- 扫描速率0.1 -20 Hz *
- 线性畸变小于1% *
- USB连接*
- 全反射器件*
- 位置测量*
- 条纹分辨自相关函数*
- 旁路功能*
典型应用:
- 多光子显微镜
- 显微镜或器件中经历色散前后的飞秒脉冲宽度测量
- 色散值比较,确定各种光学元件色散
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AA-M
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波长范围, nm
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V**: 450-700 nm
R1: 700-1300 nm
R2: 1300-2000 nm
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探测器数量
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2 (含外部探测)
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脉宽范围, fs
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20-12000
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输入重频
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>10 kHz
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灵敏度
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100 mW2
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输入偏振，线性
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水平（垂直可选）
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扫描频率, Hz
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0.1-20
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线性畸变, %
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<1%
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共线（干涉和强度）自相关
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yes
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PC连接
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USB
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必要设备
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Windows电脑或者示波器
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光纤输入（可选）
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FC/PC 或者 FC/APC
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信号源和探测器
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半导体双光子电导
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尺寸, mm
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210x164x132 (探头)
225x190x45 (控制器)
70x55x16.5 (外部探测器)
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